高溫介電溫譜測試系統

1. 系統配置：Acer 商用計算機，信號切換與控制系統，高溫儀及溫控系統，四通道夾具，生產激光器廠家測試與數據采集軟件（軟件兼容同惠 LCR 表以及是德（安捷倫）E4980AL 型LCR 表和 4294A 型阻抗分析儀）；

2. 輸入端口：四個 BNC 端口；

3. 輸出端口：10 個 SMA 輸出端口，需采用 SMA 接頭以提高高頻測試穩定性（頻率大于1MHz 時）；

4. 溫度范圍：室溫 至 850℃（額定溫區，長時間使用溫度），室溫至 1000℃（極限溫區，短時間使用）；

5. 系統屏蔽：通道切換主板預埋屏蔽層設計，連接線材采用射頻同軸線，以保證低頻與高頻測試精度和穩定性；

6. 測試夾具：融石英與探針復合夾具。其中探針需使用氧化鋁與鉑金復合結構，芯層

為鉑金，絕緣層為氧化鋁，屏蔽層為鉑金并屏蔽至樣品端。以保證長期高溫測試穩定性；

7. 同時測量樣品數：4 個；

8. 測試頻率范圍：20Hz 至 10MHz，基本準確度 0.05%；

9. 升溫速率：升溫速率 0.1-10℃/min，測溫精度±0.1℃

10. 測試樣品直徑：2 mm 至 25 mm；

11. 樣品厚度：0.02 mm 至 4 mm；

12. 單樣品測試頻率數：Z少 6 個頻率測量功能；

13. 變溫介電頻譜測試功能；

14. 變溫阻抗測試功能；

15. 掃頻測試功能。